| 参数项 | 指标 / 说明 |
|---|---|
| 产品类型 | 电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP-OES） |
| 等离子体技术 | HeliPlate™ 第二代平板等离子体技术 |
| 冷却方式 | 风冷设计，无需外接冷水机 |
| 氩气消耗 | 相比传统线圈系统，氩气消耗最高降低 50% |
| 光谱范围 | 167–900 nm |
| 检测系统 | 第三代背照式 BSI-CMOS 检测器 |
| 检测模式 | 全谱同时测定 |
| 紫外增强 | UV Boost 紫外增强模式 |
| 观测方式 | 垂直双向观测 |
| 样品分析能力 | 适用于多元素同时分析，可兼顾痕量与较高浓度样品 |
| 基体耐受性 | 等离子体基体耐受性强，适合复杂样品分析 |
| 数据采集 | 各分析物可独立设置最优积分时间 |
| 仪器状态指示 | 360° 可视化状态指示灯 |
| 软件功能 | 智能方法开发、数据处理、报告生成、审计追踪能力 |
| 适用领域 | 环境监测、食品检测、医药分析、材料科学、地质矿产、第三方检测等 |
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